产品名称 : 光致发光检测系统
产品型号 :PL-MVC
产品说明
PL-MVC光致发光视觉检测系统。

光致发光，或称光激发荧光 (Photoluminescence, PL) 对于检测发光半导体材料的光电特性是一个方便快速、非接触式与无破坏性的技术。即由分析光致发光的光谱影像与数据，可以得知掺杂之杂质的种类与含量、能隙大小、少子寿命分布，鉴别材料的损伤、裂痕，以及缺陷分布等等，是做为材料的结构成分、性能与质量鉴别的工具。

PL经常应用于半导体硅材料、太阳能电池检测、LED外延片等等材料的研究与检测等领域。 

配备短波红外相机，波长侦测范围在900 nm ~ 1700 nm，涵盖了目前所有太阳能电池材料的发光波段。
可侦测波长范围900 nm ~ 1700 nm包含硅能带间的发光(~ 1200 nm, band-to-band luminescence)、硅缺陷发光(~ 1500 nm, dislocation luminescence)。
主要可从事三种模式的影像检测；分别是穿透式光致发光影像检测(T-PLI)、反射式光致发光影像检测(R-PLI)、以及红外穿透影像检测。
可更换不同视野的镜头来改变所拍摄到影像的空间分辨率。
配备自动XY移动平台扫描成像，达到高空间分辨率与较宽广的拍摄视野。
简单易用的程序接口。

 产品规格