EL检测仪，又称场致发光测试，是跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺陷检测及生产工艺监控的专用测试设备。利用红外测试方式对电池片组件进行测试，达到EL成像模式，从而可以查看是否有电池片组件内部有电池片破裂、隐裂、黑心片、烧结断栅严重、虚焊、…

传统的无纺布表面瑕疵污点检测仪，利用单光源透射的检测原理进行图像检测，由于无纺布本身的材料结构以及本身的纹理特性，导致在此检测打光成像方式下所采集到的无纺布在线图像受干扰灰阶严重，缺陷特征容易被淹没，容易产生误检、漏检等情况的发生，不能很好…

尽管硅片上裂纹的大小可能明显增大，但通常却很难检测出来。在加工的早期阶段更是难以检测，因为此时缺陷尚未因为热处理或机械加工而变大。此外，在多晶硅片上，裂纹与晶界的区别也不明显。一般的光学检测系统，无论是使用红外还是明视场光源，都无法提高这些…